发明名称 INSPECTION OF DEFECT OF STAMPER
摘要
申请公布号 JPH0572143(A) 申请公布日期 1993.03.23
申请号 JP19910230008 申请日期 1991.09.10
申请人 NIKON CORP 发明人 KURITA SHINICHI
分类号 G01N21/88;G01N21/95;G11B7/26 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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