发明名称 PROCEDE DE CONTROLE DU PROFIL DE GRAVURE D'UNE COUCHE D'UN CIRCUIT INTEGRE.
摘要 <P>L'invention concerne un procédé de gravure en pente d'une couche d'un circuit intégré. <BR/> La couche à graver 1 est revêtue d'une couche de réserve 2 formant masque. Le procédé consiste à effectuer conjointement une passivation P du flanc de gravure de la couche à graver 1 et une érosion non isotrope de la couche de réserve 2 formant masque, ce qui permet de contrôler la pente pe du flanc de gravure de la couche à graver 1. <BR/> Application à la gravure en pente des couches d'interconnexion de circuits intégrés.</P>
申请公布号 FR2680276(A1) 申请公布日期 1993.02.12
申请号 FR19910009951 申请日期 1991.08.05
申请人 MATRA MHS 发明人 RABINZOHN PATRICK DANIEL
分类号 H01L21/3213 主分类号 H01L21/3213
代理机构 代理人
主权项
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