发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR DETERMINING THE ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF A TEST SPECIMEN MADE OF SUPERCONDUCTING MATERIAL.
摘要 La conductivité électrique d'une éprouvette (1) consituée d'un matériau supraconducteur est déterminée par l'introduction de ladite éprouvette dans le champ magnétique (5) d'une configuration de bobinages (3) reliée à l'aide d'une configuration de condensateurs (4) à un circuit oscillant parallèle (2). La fréquence de résonance et la résistance de résonance du circuit oscillant parallèle (2) sont mesurées. La fréquence de résonance est accordée de sorte que la résistance de résonance soit égale à une valeur de consigne prédéterminée, et la conductivité électrique de l'éprouvette (1) est déterminée par la mesure de la fréquence de résonance, à condition que la résistance de résonance soit égale à la valeur de consigne.
申请公布号 EP0524166(A1) 申请公布日期 1993.01.27
申请号 EP19900905434 申请日期 1990.04.09
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 CHALOUPKA, HEINZ;LOEHE, MICHAEL;PEINIGER, MICHAEL
分类号 G01N27/72;G01N27/02;G01R27/02;G01R27/26 主分类号 G01N27/72
代理机构 代理人
主权项
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