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经营范围
发明名称
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE
摘要
申请公布号
JPH04321268(A)
申请公布日期
1992.11.11
申请号
JP19910116875
申请日期
1991.04.20
申请人
NEC CORP
发明人
OGAWA SUMIO
分类号
H01L21/66;G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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