发明名称 Method and measuring for contactless on-line measurement.
摘要 Mit einem Infrarotstrahler 2, dessen Oberflächentemperatur während der Messung konstant gehalten wird, wird ein Meßbereich 4 auf einer aufgerauhten Materialoberfläche unter schrägem Strahleneinfall wärmebestrahlt. Die Temperatur der reflektierten Wärmestrahlung wird mit einem Infrarot-Thermometer 3 gemessen, das oberhalb des Meßbereiches so angeordnet ist, daß die reflektierte Strahlung in das Sichtfeld des Infrarot-Thermometers einfällt. Der gesamte Meßbereich der Materialoberfläche, der im Sichtfeld des Infrarot-Thermometers liegt, muß wärmebestrahlt werden. Der gemessene Temperaturverlauf der reflektierten Strahlung in Abhängigkeit von der bekannten Oberflächenrauheit des Materials wird in einer Vergleichseinrichtung 7 abgespeichert. Dieser Vergleichseinrichtung 7 wird ein Sollwert für die gewünschte Oberflächenrauheit eingespeist. Es wird die Infrarottemperatur einer zunächst bezüglich ihrer Oberflächenrauheit unbekannten Materialoberfläche gemessen und mit dem abgespeicherten Temperaturverlauf verglichen, um die Größe der Oberflächenrauheit zu bestimmen. Aus dem so erhaltenen Wert und dem eingespeisten Sollwert wird ein Differenzsignal gebildet, das über den Ausgang 8 der Vergleichseinrichtung 7 einer Steuerung 9 einer Bearbeitungseinrichtung für das Material zugeführt wird. <IMAGE>
申请公布号 EP0512312(A2) 申请公布日期 1992.11.11
申请号 EP19920106786 申请日期 1992.04.21
申请人 HOECHST AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHMIDT, HUGO, DR. DIPL.-PHYS.;RUCKSZIO, MANFRED;HAAS, RAIMUND, DR. DIPL.-ING.;MACKERT, WALTER, DIPL.-PHYS.
分类号 G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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