| 发明名称 |
VERIFICAITON METHOD AT DESIGN STAGE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH04296678(A) |
申请公布日期 |
1992.10.21 |
| 申请号 |
JP19910087510 |
申请日期 |
1991.03.26 |
| 申请人 |
SHARP CORP |
发明人 |
SHINMYO HIDEAKI;GURAHAMU JIYON BAAKAA |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/25;G06F11/26;G06F17/50;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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