| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR THE QUANTITATIVE,DEPTH DIFFERENTIAL ANALYSIS OF SOLID SAMPLES WITH THE USE OF TWO ION BEAMS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2215909(B) |
申请公布日期 |
1992.09.16 |
| 申请号 |
GB19890002064 |
申请日期 |
1989.01.31 |
| 申请人 |
* GESELLSCHAFT FUER STRAHLEN- UND UMWELTFORSCHUNG MBH |
发明人 |
KLAUS * WITTMAACK |
| 分类号 |
G01N23/203;G01Q30/04;G01Q30/18;H01J37/252 |
主分类号 |
G01N23/203 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
