发明名称 TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号 JPH04254774(A) 申请公布日期 1992.09.10
申请号 JP19910016215 申请日期 1991.02.07
申请人 NEC CORP 发明人 TANIGUCHI YUKIHIRO
分类号 G01R31/26;G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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