发明名称 METHOD FOR MEASURING FILM THICKNESS OF MULTILAYER FILM
摘要
申请公布号 JPH04223210(A) 申请公布日期 1992.08.13
申请号 JP19900406079 申请日期 1990.12.25
申请人 FUJITSU LTD 发明人 ITO SUSUMU;USUI YOICHI
分类号 G01B15/02 主分类号 G01B15/02
代理机构 代理人
主权项
地址