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发明名称 SCREENING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH04212434(A) 申请公布日期 1992.08.04
申请号 JP19910009976 申请日期 1991.01.30
申请人 NEC CORP 发明人 NAKAHIRA MAMORU
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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