发明名称 SYSTEME DE MESURE DE SURFACES A TROIS DIMENSIONS DEVANT ETRE REPRESENTEES MATHEMATIQUEMENT AINSI QU'UN PROCEDE DE MESURE ET UN GABARIT D'ETALONNAGE DU SYSTEME DE MESURE.
摘要 <P>Système de mesure de surfaces à trois dimensions devant être représentées mathématiquement, ainsi qu'un procédé de mesure pour la mise en œuvre du système de mesure et un gabarit d'étalonnage du système de mesure, <BR/> système caractérisé en ce qu'il comprend une machine à mesurer (5) définissant un espace à trois dimensions pour la mesure d'une surface à trois dimensions; des dispositifs optiques (10) destinés à générer une image de la surface à trois dimensions devant être mesurée, ces dispositifs optique; (10) étant portés par la machine à mesurer (5) de manière à pouvoir être déplacés et orientés à l'intérieur de l'espace à trois dimensions; et des dispositifs de traitement (1, 6) reliés aux dispositifs optiques et destinés à déterminer les coordonnées de points de la surface à mesurer.</P>
申请公布号 FR2672119(A1) 申请公布日期 1992.07.31
申请号 FR19910016302 申请日期 1991.12.30
申请人 DEA SPA 发明人 MAIOCCO ROBERTO;CASSOLINO CATERINA;RAHO GUGLIELMO
分类号 G01B11/00;G01B11/24;G06T7/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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