THICKNESS AND FLAW DETECTION USING TIME MAPPING INTO MEMORY TECHNIQUE

摘要

L'invention se rapporte en général à des systèmes d'imagerie par ultrasons et se rapporte particulièrement à l'utilisation de tels systèmes dans des contrôles non-destructifs où l'on doit mesurer l'épaisseur de pièces (15) soupçonnées de présenter des défectuosités internes (40) mais dont l'accès est souvent limité aux surfaces externes. L'invention permet de déterminer de façon sensiblement précise l'épaisseur et la présence de défectuosités sans qu'il soit nécessaire d'utiliser une horloge de fréquence ultra-élevée onéreuse pour mesurer la durée.