| 摘要 |
<p>Zur Analyse rasch hintereinander anfallender Gasproben (G) wird diese dem Halbleitersensor (60a, b, c) zugeführt. Das Analyseverfahren wird dadurch beschleunigt, dass die Ausgangssignale der Halbleitersensoren in der Zeit (61) differenziert werden, und dass nacheinander anfallende Gasproben sequentiell (59) dem Halbleitersensor (60a bis 60c) zugeführt werden. In Zyklusphasen, in welchen den jeweiligen Halbleitersensoren (60a bis 60c) keine Gasprobe zugeführt wird, werden Zuleitungen und Gehäuse gasgespült (S), wobei durch Abstimmung des Spülgases und/oder durch Abstimmung der Strömungsverhältnisse zwischen Spülgas und Gasprobe im Halbleiterbereich die Auswirkung des Spülvorganges auf das Halbleiterausgangssignal (A) minimalisiert wird.</p> |
