发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR THE OPTICAL MEASUREMENT OF THE OUTLINES OF AN OPAQUE OBJECT
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum optischen Messen der Konturen eines lichtundurchlässigen Objektes (10), bei dem der von dem mittels einer oder mehreren Lichtquellen (14) eines angestrahlten Objektes erzeugte Schatten von einem oder mehreren optoelektronischen CCD-Sensoren (13, 23) erfaßt und unter Berücksichtigung des Objektabstandes von den Sensoren sowie dem Vergrößerungsmaß der optischen Abbildungseinrichtung die Konturen des Objektes bestimmt werden. Bei feststehenden Sensoren (13, 23) wird das Objekt (10) um eine vorzugsweise vertikal zu einer Sensorebene und parallel zu einer zweiter Sensorebene verlaufende und innerhalb der Innenkontur des Objekts liegende Drehachse (27) um einen Gesamtwinkel von mindestens 180° gedreht, wobei aus den Drehwinkeln und den vorzugsweise in axialer und/oder in radialer Richtung zur Drehachse von dem oder den Sensoren (13, 23) erfaßten zugehörigen Schattenbildern die Konturen des Objektes (10) bestimmt werden.</p>
申请公布号 WO1992007234(A1) 申请公布日期 1992.04.30
申请号 EP1991001929 申请日期 1991.10.10
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址