| 发明名称 | 粒子尺寸分布测量仪 | ||
| 摘要 | 一种在结构上能测量过大尺寸粒子的粒子尺寸分布测量仪。 | ||
| 申请公布号 | CN1059792A | 申请公布日期 | 1992.03.25 |
| 申请号 | CN91105283.6 | 申请日期 | 1991.06.29 |
| 申请人 | 株式会社岛津制作所 | 发明人 | 丹羽猛 |
| 分类号 | G01N15/02 | 主分类号 | G01N15/02 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 乔晓东 |
| 主权项 | 1、一种测量粒子尺寸分布的仪器主要包括：激光束系统(1、2)，一个液流槽(3)，一个傅里叶变换透镜(4)，一组(5a)弧形光检测器(5)和一个计算机(10)，其特征在于，除上述那些弧形光检测器(5)外还装有一个中心光检测器(6)。 | ||
| 地址 | 日本京都 | ||