发明名称 MEASURING SYSTEM FOR TESTING OF ANALOG AND ANALOG-TO-DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS.
摘要
申请公布号 CS275881(B6) 申请公布日期 1992.03.18
申请号 CS19870005010 申请日期 1987.07.02
申请人 SLIPKA JAROSLAV ING. CSC.;STELLA JIRI ING.;LIBICHER JAN ING.;KUNIAK JURAJ ING.;KONTSEK LUBOMIR RNDR.;NIEDERLAND VLADIMIR ING.;IVANCO MILAN ING.;MARETTA VENDELIN ING.;LATTA JAN ING. 发明人 SLIPKA JAROSLAV ING. CSC.;STELLA JIRI ING.;LIBICHER JAN ING.;KUNIAK JURAJ ING.;KONTSEK LUBOMIR RNDR.;NIEDERLAND VLADIMIR ING.;IVANCO MILAN ING.;MARETTA VENDELIN ING.;LATTA JAN ING.
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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