| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH05288798(A) |
申请公布日期 |
1993.11.02 |
| 申请号 |
JP19920094071 |
申请日期 |
1992.04.14 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
HORIGUCHI SHINJI;ITO KIYOO;SAKATA TAKESHI |
| 分类号 |
G01R31/26;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/04;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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