发明名称 PLASMA ETCHING INDIUM TIN OXIDE USING A DEPOSITED OXIDE MASK
摘要 The use of a deposited oxide mask permits higher power to be used when ITO is etched by a plasma containing CH3. and AR<+> thereby increasing the etch rate of ITO.
申请公布号 WO9200609(A1) 申请公布日期 1992.01.09
申请号 WO1991US04347 申请日期 1991.06.19
申请人 EASTMAN KODAK COMPANY 发明人 ROSELLE, PAUL, L.
分类号 G02F1/1343;G03F7/40;H01L21/302;H01L21/3065;H01L27/146;H01L31/18 主分类号 G02F1/1343
代理机构 代理人
主权项
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