首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Semiconductor device with stress relief coating at the periphery of the device
摘要
申请公布号
US5043793(A)
申请公布日期
1991.08.27
申请号
US19900554631
申请日期
1990.07.17
申请人
U.S. PHILIPS CORPORATION
发明人
GOOTZEN, WILHELMUS F. M.;LUITEN, GWENDOLYN A.;VAN WIJNGAARDEN, HANS;DE ZEEUW, CORNELIS J. H.
分类号
H01L23/29;H01L23/31
主分类号
H01L23/29
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
Brennkammer,insbesondere fuer Strahltriebwerke
Rundkupplung fuer Wellen,Rohrleitungen usw. die sowohl auf Zug als auch auf Druck oder Drehung als auch auf Abdichtung fuer Fluessigkeit oder Gase verwendet werden kann
Schuh
Verfahren zur Synthetisierung von Alkoholen durch Hydrierung von Olefinen
Verfahren zur Herstellung von N-(Thiocarbamoylthio)-imiden
Spannungsregler und Verfahren der Spannungsregelung
Vorrichtung zum Berechnen des Preises von Fleisch und anderen Waren
Einrichtung zur Kompensation des Fremdfeldeinflusses bei einem Induktions-Elektrizitaetszaehler
Verfahren zur Herstellung von elektrisch leitenden Schichten auf elektrisch nicht leitenden Oberflaechen
Unter Druck stehender Bauteil fuer Kernreaktoren
Halbleiter mit mosaikartig angeordneten Bauelementen
Verfahren zur Herstellung von Halbleiter-Bauelementen und aehnlichen Elementen
Fotoelektrische Empfangseinrichtung
Schnellganggetriebe fuer Kraftfahrzeuge
Befestigung von Sicherheitssitzen in Fahrzeugen
Procédé de fabrication d'un mobile denté pour engrenage d'angle dans un mouvement d'horlogerie et dispositif pour la mise en oeuvre du procédé
Kühlschrank
Kleinpotentiometer
Verfahren zur Bestimmung des Bedeckungszustandes der Oberfläche von Maschinenteilen, über die ein Materialstrom fliesst, und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
Verfahren zur zerstörungsfreien, optischen Beurteilung der Oberflächengüte von Bohrungen in einem Werkstück