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发明名称 CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE RELIABILITY OF THE FUNCTION OF A SEMI-CONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 EP0411594(A3) 申请公布日期 1991.07.03
申请号 EP19900114729 申请日期 1990.07.31
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BARRE, CLAUDE, DIPL.-ING.
分类号 G11C29/50;(IPC1-7):G06F11/24;G01R31/28 主分类号 G11C29/50
代理机构 代理人
主权项
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