发明名称 DISPOSITIF POUR ETALONNER UN INSTRUMENT D'OPTIQUE ET SES APPLICATIONS.
摘要 <P>L'invention concerne l'étalonnage d'un instrument d'optique <BR/> Pour étalonner, au moyen d'une source de lumière, un instrument d'optique radiométrique dont le plan focal contient des détecteurs photoélectriques qui convertissent l'éclairement de l'image en un signal électrique, on dispose cette source (3) dans la pupille d'entrée (2) ou dans le diaphragme d'ouverture de l'instrument. <BR/> L'invention s'applique notamment à l'étalonnage d'un instrument d'optique embarqué à bord d'un satellite.</P>
申请公布号 FR2656420(A1) 申请公布日期 1991.06.28
申请号 FR19890017100 申请日期 1989.12.22
申请人 CENTRE NAL ETUDES SPATIALES 发明人 DESHAYES JEAN-PIERRE
分类号 G01J1/00;G01J1/02;G01J1/04;G01J1/08;G01J5/02;G01M11/00 主分类号 G01J1/00
代理机构 代理人
主权项
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