发明名称 MULTI-AXIS UNIVERSAL CIRCUIT BOARD TEST FIXTURE
摘要 Une monture d'essai (10) comprend une base (12) et des parois latérales verticales successives (16, 17 et 18), solidaires de la base (12). Des rainures latérales (22, 24, 26) sont ménagées autour de la surface interne des trois parois latérales (16, 17 et 18). Une première bride de fixation mobile (30) est agencée entre des parois latérales opposées (16 et 18) de manière à s'éloigner et à se rapprocher d'une paroi latérale intermédiaire (17) dans une fente sélectionnée (22, 24, 26). Une deuxième bride de fixation mobile (80) est montée de manière mobile le long de la première bride de fixation (30) et s'étend sur une courte distance vers la paroi latérale intermédiaire (17). Une plaquette de circuits imprimés (90) à tester est serrée entre les parois latérales (16 et 17) et les première et deuxième brides de fixation (30 et 80). Une sonde d'essai (130) est agencée dans un support (91), monté de manière mobile entre les première et troisième parois latérales (16 et 18), de façon à se rapprocher et à s'éloigner de la deuxième paroi latérale intermédiaire (17). La position du support (91) de la sonde par rapport à la plaquette (90) est reconnue par un système optique (142).
申请公布号 WO9106871(A1) 申请公布日期 1991.05.16
申请号 WO1990US06510 申请日期 1990.11.02
申请人 HUNTRON INSTRUMENTS, INC. 发明人 HUNT, BILL;PARSHOTAM, MAHESH
分类号 G01R1/04 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
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