发明名称 METHOD, TEST PROBE AND APPARATUS FOR THE MEASUREMENT OF ALTERNATING CURRENT POTENTIAL DROP.
摘要 Selon un procédé de mesure de la chute de potentiel d'un courant alternatif, on confine latéralement le flux du courant dans l'échantillon à tester en faisant passer le courant appliqué à l'extérieur et à proximité immédiate de la surface (9) de l'échantillon à tester (11). A cet effet, une sonde de tension (1) comprend un conducteur longitudinal isolé (33) connecté à un contact de courant (27) d'une paire de contacts de courant (27, 29). En service, le conducteur constitue un trajet extérieur d'écoulement au courant appliqué à l'échantillon à tester (11). Le conducteur isolé (33) est adjacent aux contacts (5, 7) de la sonde de tension. Pour faciliter le montage, le conducteur (33) peut prendre la forme d'une piste conductrice sur une carte de circuits imprimés (35). La piste (33) peut également se bifurquer afin de comprendre un ou plusieurs conducteurs (65, 67) de longueur réduite utilisés pour former une ou plusieurs boucles inductives de compensation (47) lesquelles peuvent être câblées afin d'annuler un champ électromagnétique induit capté. De préférence, la tension captée est transmise à un détecteur sensible aux phases auquel est appliquée une tension de forme d'onde de référence en phase avec le courant.
申请公布号 EP0426753(A1) 申请公布日期 1991.05.15
申请号 EP19890909223 申请日期 1989.07.26
申请人 MATELECT LIMITED 发明人 UNVALA, BHIKHU, ARDESHIR
分类号 G01N27/20 主分类号 G01N27/20
代理机构 代理人
主权项
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