发明名称 |
MEASURING SAMPLE FOR SURFACE POTENTIAL AND MEASURING DEVICE THEREFOR |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH0394175(A) |
申请公布日期 |
1991.04.18 |
申请号 |
JP19900106516 |
申请日期 |
1990.04.24 |
申请人 |
TOSHIBA CORP |
发明人 |
TANAKA KUNIYOSHI;SHIROMIZU SHUNJI;OTA MINORU;MIYAGAWA HIDEO |
分类号 |
G01R19/155;G01R29/12;G01R29/24;G03B42/02 |
主分类号 |
G01R19/155 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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