发明名称 TEST METHOD FOR DUAL PORT MEMORY
摘要
申请公布号 JPH0351935(A) 申请公布日期 1991.03.06
申请号 JP19890187747 申请日期 1989.07.19
申请人 NEC CORP 发明人 SEKINE MINORU
分类号 G06F12/16 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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