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发明名称
TEST METHOD FOR DUAL PORT MEMORY
摘要
申请公布号
JPH0351935(A)
申请公布日期
1991.03.06
申请号
JP19890187747
申请日期
1989.07.19
申请人
NEC CORP
发明人
SEKINE MINORU
分类号
G06F12/16
主分类号
G06F12/16
代理机构
代理人
主权项
地址
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