METHOD AND PACKAGE FOR INTEGRATED CIRCUIT IDENTIFICATION AND TESTING

摘要

Une mémoire morte est incluse dans un boîtier de circuits intégrés pour identifier le dispositif à des fins de test. On programme la mémoire morte en coupant des liens entre les résistances, par exemple. Les liens entre les résistances déterminent la sortie de la mémoire morte programmable. Cette sortie est un mot binaire lu par le dispositif de test en même temps qu'il effectue des mesures du dispositif de référence. Cette information permet au dispositif de test de procéder à différents calculs.