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发明名称 TEST CIRCUIT FOR INSPECTING DYNAMIC CHARACTERISTICS OF INTEGRATED CIRCUIT COMPONENT
摘要
申请公布号 JPH0329869(A) 申请公布日期 1991.02.07
申请号 JP19900155594 申请日期 1990.06.15
申请人 SIEMENS AG 发明人 URURITSUHI ROIBURU
分类号 G01R31/28;H03K19/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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