Component net test appliance especially for an electronic circuit.

摘要

Les différences de potentiel respectives entre des bornes du circuit (CI) à tester sont captées pendant un intervalle temporel choisi et stockées dans une mémoire de valeurs (MM1). Une mémoire (MM2) contient des modèles fonctionnels prédéterminés de composants électroniques. Des moyens de traitement (MT), reliés à ces mémoires, sont aptes à effectuer un traitement comportant l'estimation, sur ledit intervalle temporel, de grandeurs physiques notamment des expressions de courant, compte tenu d'expressions contenues dans lesdits modèles et des valeurs captées, et leur stockage dans la mémoire de valeurs ainsi que des tests sur des valeurs contenues dans la mémoire de valeurs.