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发明名称 Test equipment for a low current IC
摘要
申请公布号 US4985672(A) 申请公布日期 1991.01.15
申请号 US19890448506 申请日期 1989.12.11
申请人 ADVANTEST CORPORATION 发明人 HASHIMOTO, YOSHIHIRO;YAMAZAKI, SHOJI;KATOH, SHUNSUKE
分类号 G01R31/30 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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