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经营范围
发明名称
INTEGRATION CHECKING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号
JPH02310885(A)
申请公布日期
1990.12.26
申请号
JP19890132008
申请日期
1989.05.24
申请人
NEC CORP
发明人
TAKESHIMA TOSHIO
分类号
G11C11/401;G11C11/409;G11C29/00;G11C29/34
主分类号
G11C11/401
代理机构
代理人
主权项
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