发明名称 |
Device under test interface board and test electronic card interconnection in semiconductor test system |
摘要 |
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申请公布号 |
US4973256(A) |
申请公布日期 |
1990.11.27 |
申请号 |
US19890395924 |
申请日期 |
1989.08.18 |
申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED |
发明人 |
PETERS, ALFRED C. |
分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;H01R12/04;H01R13/24 |
主分类号 |
G01R1/073 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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