发明名称 Deep UV etch resistant system.
摘要 Es wird ein gut strukturierbares und insbesonders für den tiefen UV-Bereich geeignetes Photoresistsystem vorgeschlagen, bei dem in den lithographisch erzeugten Photoresiststrukturen durch Behandlung mit einem Reagenz eine erhöhte Ätzresistenz gegenüber einem halogenhaltigen Plasma erzeugt wird. Das Reagenz weist überwiegend aromatische Struktur auf und trägt reaktive Gruppen, die bereits unter Normalbedingungen zur chemischen Reaktion mit weiteren reaktionsfähigen Gruppen des Photoresists geeignet sind.Der Photoresist weist insbesondere Anhydrid- oder Epoxidgruppen auf und eignet sich zur Strukturierung mit tiefem UV-Licht.
申请公布号 EP0394741(A2) 申请公布日期 1990.10.31
申请号 EP19900106832 申请日期 1990.04.10
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SEZI, RECAI, DR.;SEBALD, MICHAEL, DR. RER. NAT.;LEUSCHNER, RAINER, DR. RER. NAT.;BIRKLE, SIEGFRIED, DR. RER. NAT.;AHNE, HELLMUT, DR.
分类号 G03F7/038;G03F7/26;G03F7/40;H01L21/027 主分类号 G03F7/038
代理机构 代理人
主权项
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