发明名称 |
METHOD FOR INSPECTING GOOD BY OPTICAL PROCESS |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH02247506(A) |
申请公布日期 |
1990.10.03 |
申请号 |
JP19900014745 |
申请日期 |
1990.01.24 |
申请人 |
SAN GOBAN SHINEMATEITSUKU E CONTROL |
发明人 |
JIYANNPIEERU AMERU;PIEERU RANBORO |
分类号 |
G01B11/00;B07C5/12;G01B11/02;G01B11/24;G01N21/90 |
主分类号 |
G01B11/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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