发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号 JPH02242176(A) 申请公布日期 1990.09.26
申请号 JP19890062695 申请日期 1989.03.15
申请人 NEC CORP 发明人 HARASAWA AKIO
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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