| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Schaltung zum Messen von Widerständen von Prüflingen, mit einem einen ersten elektronischen Halbleiterschalter (15) aufweisenden Prüfkreis, der ferner einen Prüfling (7) und eine den über den Prüfling (7) fließenden Prüfstrom (IP) messende Strommeßeinrichtung (11) umfaßt, und mit einem einen zweiten elektronischen Halbleiterschalter (16) aufweisenden Meßkreis, der parallel zum ersten elektronischen Halbleiterschalter (15) geschaltet ist und eine einen Spannungsabfall am Prüfkreis messende Spannungseinrichtung (12) umfaßt. Dabei ist der erste Halbleiterschalter ein Transistor (15) vom IGBT-Typ, während der zweite Halbleiterschalter ein Feldeffekttransistor ist.</p> |
