发明名称 分析仪器用检测装置
摘要 一种和分析仪器使用的检测装置,包含一光源以提供分析样品中一种或一种以上物质所需的光束。检测分析样品有关的光讯的检测器。分析台允许光束进入并阻隔外来的光进入样品。此分析台更允许光从样品中通过进入光检测器。许多的滤光镜可选择安置在光源和样品之间的光束中。这些滤光镜允许不同波长的光通过因此可进行样品的选择光分析。1987年5月7日在美国申请专利第046,953号
申请公布号 TW135210 申请公布日期 1990.06.01
申请号 TW077102624 申请日期 1988.04.21
申请人 贝登狄金森公司 发明人 阮达那W.史密斯;罗吉E.史密斯
分类号 G01N1/28;G01N21/63 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种检测装置适合应用在一种把样品盛装 在光传播容具内的样品检测仪器中,包含 :在分析样品中一种或一种以上物质时提 供光束的光源;检测和待分析样品有关的 光讯的检测器;盛装待分析样品容具能嵌 入和光束能导入的分析台;上述分析台包 含一能接收容具和包围样品阻隔外来光线 的中央开孔;上述分析台包含和上述中央 开孔联接的第一孔径以允许从光束来的入 射光进入样品试管中,及和上述中央开孔 联接的第二孔径以允许光线从样品中通过 进入上述检测器中以便进行样品分析。 一种可转动的滤光钟转盘,具有许多 在上述转盘中以环状排列的滤光镜,每一 滤光镜可介入光源和分析台之间的光束中 ,滤光镜允许不同波长的光通过,因,此 根据转盘的位置可以进行样品的选择光分 析。和转动上述转盘的装置,如此滤光镜 可选择地安置在上述光源和上述分析台之 间的光束中。2.如申请专利第1项所述的装置,其进 一步 包含第一个透镜以聚焦从上述光源来的光 束进入分析台。3.如申请专利第2项所述的装置其 进一步包 含第二个透镜以聚焦从样品来的光线进入 检测器。4.如申请专利第1项所述的装置中包含一 本 体组件,在其中上述中央开孔实际上是一 圆柱状管腔以使包围住盛装样品的圆柱状 容具。5.如申请专利第4项所述的装置其上述本体 组件可在其中央开孔包围容具的第一个位 置和离开上述包围容具的第二位置移动以 便有助于容具的进出分析台。和操作移动 上述本体组件在第一和第二位置运动以容 纳容具进入分析台的装置。6.如申请专利第1项所 述的装置其更进一步 包含第三孔径和上述中央开孔联接以允许 光线从上述样品通过到达上述检测器上, 其中第一和第二孔径之间的包含角实质上 是 90 ℃和第一和第三孔径之间实际上是 180 ℃。7.如申请专利第1项所述的装置具滤光镜相 对且成一直线排列且每一对滤光镜中的一 滤光镜介入光源和分析台之间的光束中, 另一滤光镜则介入样品和检测器问的光束 中。8.如申请专利第7项所述的装置其中滤光镜 的每一对选成每对的第一个滤光镜能使和 待分析样品有关的铬化氟激发的波长的光 通过而第二个滤光镜则便从铬化氟发射的 光的波长通过。9.和一种分析仪器使用的检测装 置其包含, 为分析样品中一种或一种以上的物质所提 供光束的装置;检测和上述待分析样品有 关的光讯的装置;允许上述光束进入上述 样品并且阻隔外来光线的装置,上述装置 更进一步允许光从上述样品通过进入上述 检测装置。及许多可在上述提供光和样品 的装置问的光束中选择安置的滤光镜,这 些滤光镜允许不同波长的光通过,因此可 进行样品的选择光分析。10.一种检测装置应用在 一种把样品盛装在 光传播试管内的样品检测仪器中,包含: 为分析样品中一种或一种以上物质所提供 入射光束的光源;检测和分析样品有关的 光讯的检测器;和一种分析台,包含具有 圆柱状管腔的可移动本体组件,盛装待分 析样品的试管可嵌入管腔中,因此上述本 体组件包围试管并阻隔外来光线。上述本 体组件包含一和上述管腔联接的第一孔径 以允许光线进入样品试管中和第二孔径以 允许光从上述样品通过进入上述检测器, 因此样品可进行分析。上述本体组件可在 管腔包围试管的第一个位置和推开包围试 管的第二个位置间操作移动以有助于试管 在分析台进出通过;一种可转动滤光镜转 盘,具有许多可移去而环状排列的滤光镜 每一滤光镜可介入光源和分析台之间的光 束,滤光镜允许不同波长的光通过,因此 根据滤光镜转盘的位置可以进行样品的选 择光分析;和转动上述转盘的装置,如此 每一滤光镜可选择安置在光源和分析台之 间的光束中。图示简单说明: 图1是本发明检测装置的较好实施例 ,上面平面图中的部分截面。 图2是图1所示关于滤光镜转盘和固 定样品试管的本体组件的正面装置的检测 装置的前面图。 图3是本发明的检测装置中较好的滤 光镜转盘的平面图。 图4是沿着图3的线4-4所截取的 滤光镜转盘的放大部分截面图。 图5表示和固定许多样品包装的圆盘 传动带并列的本发明的检测装置的上部平 面图。 图6是检测装置的侧面图, 图7是和图6相似的侧面图表示当样 品试管在圆盘传动带的适当位置时,一样 品试管嵌入本体组件中以待分析。 图8是本发明的本体组件较好的宵施 例正面图。 图9是图8的本体组件上部平面图。 图10是从图8沿线10-10所截取的本 体组件的截面图。
地址 美国