| 摘要 |
Chaque circuit constitutif (fig. 3; fig. 4) d'une tranche LSI (intégration à grande échelle) comprend une partie (32; 46) de logique kernel vérifiant l'intégrité du circuit auquel elle appartient, selon un procédé étape par étape par lequel des parties (39, 40, 42, 43) progressivement plus grandes du circuit sont testées. La logique (31; 50, 51) testée pendant une étape est impliquée dans l'étape suivante, et une fois le test du circuit constitutif terminé, on l'étend aux circuits adjacents de la tranche. La détection d'une anomalie à n'importe quelle étape a pour effet l'isolation du circuit défectueux (ou d'une partie de celui-ci). Des programmes de test ainsi que des données sont stockées dans la mémoire morte (37, 38) à l'intérieur du circuit constitutif, ou bien sont envoyés par des câbles (44) connectés à la tranche, à des fins de stockage dans la mémoire vive (48). Une fois le test achevé, la logique de configuration se trouvant à l'intérieur des circuits interconnecte les bons circuits dans un réseau, à des fins de communication de signaux entre eux. On peut partager la logique kernel (32; 46) entre des groupes de circuits constitutifs. |
