发明名称 Testing circuit for random access memory device
摘要
申请公布号 US4888772(A) 申请公布日期 1989.12.19
申请号 US19870066275 申请日期 1987.06.25
申请人 NEC CORPORATION 发明人 TANIGAWA, TAKAHO
分类号 G11C29/00;G11C11/401;G11C11/409;G11C29/34 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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