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经营范围
发明名称
BACK RASTER TESTING CIRCUITS
摘要
申请公布号
KR890008252(Y1)
申请公布日期
1989.11.25
申请号
KR19860018291U
申请日期
1986.12.03
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD.
发明人
YUN, KYONG-CHUN
分类号
H04N5/76;(IPC1-7):H04N5/76
主分类号
H04N5/76
代理机构
代理人
主权项
地址
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