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发明名称 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM OPTISCHEN UEBERPRUEFEN DES AUSSEHENS CHIPARTIGER BAUTEILE UND ZUM SORTIEREN DER CHIPARTIGEN BAUTEILE
摘要
申请公布号 DE3906281(A1) 申请公布日期 1989.10.19
申请号 DE19893906281 申请日期 1989.02.28
申请人 TDK CORPORATION, TOKIO/TOKYO, JP 发明人 MIZUNO, TOURU;KITAJIMA, YASUHIKO, TOKIO/TOKYO, JP
分类号 B65G47/46;B07C5/02;B07C5/10;B07C5/34;B07C5/36;B65G47/78;G01N21/88 主分类号 B65G47/46
代理机构 代理人
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