(A) ;THIN LAYER THICKNESS MEASURING APPARATUS,申请号JP19820015524-传众专利搜索

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发明名称	(A) ;THIN LAYER THICKNESS MEASURING APPARATUS
摘要
申请公布号	JPH0146608(B2)	申请公布日期	1989.10.09
申请号	JP19820015524	申请日期	1982.02.04
申请人	KASHIMA SEKYU KK	发明人	WATABE SHOZO
分类号	D01F9/12;D01F9/14	主分类号	D01F9/12
代理机构		代理人
主权项
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