Method and apparatus for calibrating an X-ray scanner using a non-circular standard probe.

摘要

L'invention concerne les scanners à rayons X et plus particulièrement un procédé d'étalonnage de tels appareils.

L'invention réside dans le faite que l'on utilise un seul étalon 32 de forme elliptique par exemple, et que l'on effectue des mesures d'atténuation pour plusieurs positions angulaires principales du scanner (30, 31) autour de l'étalon (32). En outre, on effectue plusieurs mesures ou vues de part et d'autre de cette position principale pour calculer une atténuation moyenne par canal. La courbe d'atténuation est ensuite lissée par filtrage et approximation polynomiale.

L'invention est applicable aux scanners à rayons X.