| 摘要 |
<p>Kontaktiervorrichtung für Prüfeinrichtungen zum Prüfen von elektrischen oder elektronischen Prüflingen. Sie weist eine Plattenanordnung (11) aus mehreren zueinander parallelen Platten (15, 16, 17; 15, 16) auf, in die Kontaktnadeln (12) mit Gleitlagerspiel eingesetzt sind. Jeder Kontaktnadel (12) ist ein federndes, elektrisch leitendes Gegenkontaktelement (22) zugeordnet. Die Kontaktnadel (12) besteht aus einem geraden Stift (13) und einer rohrförmigen Hülse (14), die über das rückwärtige Ende des Stiftes übersteht. Die Gegenkontaktelemente (22) weisen dem Kontaktieren der ihnen zugewandten rückwärtigen Innenränder der Hülsen (14) der Kontaktnadeln (12) dienende, sich verjüngende Köpfe (33) auf.</p> |
