发明名称 OPTICAL DEFECT INSPECTOR
摘要
申请公布号 JPH01214744(A) 申请公布日期 1989.08.29
申请号 JP19880335676 申请日期 1988.12.28
申请人 ERWIN SICK GMBH OPT ELEKTRON 发明人 KAARU PIITSUSHIE
分类号 G01N21/89;G01N21/892;G01N21/896;G01N21/95;G01N21/958 主分类号 G01N21/89
代理机构 代理人
主权项
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