| 摘要 |
<p>Kontaktiervorrichtung (10) für eine Prüfeinrichtung zum Prüfen von Prüflingen (25) auf elektrische Fehlerfreiheit, welche Prüflinge jeweils eine mit einer Mehrzahl von Messerleisten (23) und/oder Buchsenleisten (24) bestückte Leiterplatte, Verdrahtungsträger oder dgl. aufweisen. Sie weist mindestens eine Tragvorrichtung (66) auf, die dem Tragen von dem Kontaktieren der Messer und/oder Buchsen von an einem Prüfling angeordneten Messer- und/oder Buchsenleisten dienende Prüfkontakte (33, 47; 59) dient. Die Kontaktiervorrichtung weist ferner Rückstellfedermittel (39) auf.</p> |
