发明名称 Position measuring device.
摘要 Bei einer derartigen Positionsmeßeinrichtung zum Messen der Relativlage zweier Objekte weist ein Teilungsträger (TT1) eine Meßteilung (MT1) und eine Zusatzteilung (ZT1) auf. Eine Abtasteinrichtung (A1) tastet die Meßteilung (MT1) zur Erzeugung eines periodischen Meßabtastsignals (MS1) und die Zusatzteilung (ZT1) zur Erzeugung eines periodischen Zusatzabtastsignals (ZS1) ab; die Periodenlänge des Meßabtastsignals (MS1) und die Periodenlänge des Zusatzabtastsignals (ZS1) unterscheiden sich voneinander. Das Meßabtastsignal (MS1) und das Zusatzabtastsignal (ZS1) werden in einer Auswerteeinrichtung (AW1) bezüglich ihrer gegenseitigen Phasendifferenz von einem Phasenvergleicher (PV1) verglichen. Bei einer vorgegebenen Phasendifferenz zwischen dem Meßabtastsignal (MS1) und dem Zusatzabtastsignal (ZS1) wird von Phasenvergleicher (PV1) ein Referenzimpuls (RP1) erzeugt, der einem Zähler (Z1) der Auswerteeinrichtung (AW1) beispielsweise zum Nullsetzen des Zählerstandes zugeführt wird (Figur 1).
申请公布号 EP0325149(A2) 申请公布日期 1989.07.26
申请号 EP19890100358 申请日期 1989.01.11
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 KRAUS, HEINZ
分类号 G01D5/245 主分类号 G01D5/245
代理机构 代理人
主权项
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