发明名称 Electron beam contactless testing system with grid bias switching
摘要
申请公布号 US4843330(A) 申请公布日期 1989.06.27
申请号 US19860925764 申请日期 1986.10.30
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 GOLLADAY, STEVEN D.;HOHN, FRITZ J.;PFEIFFER, HANS C.
分类号 H01L21/66;G01N23/225;G01Q30/02;G01R31/02;G01R31/302;G01R31/306;H01L21/26;H05K3/46 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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