记忆体用之测试电路

摘要

提供用来产生欲测试之一记忆体的一CS信号、一位址信号、一数据信号或一R／W信号之各信号产生电路，与用来产生这些信号产生电路之一控制数据的一测试设定控制电路。信号产生电路与测试设定控制电路具有移位寄存器，而一控制数据与一测试数据系连续从外部端子输入至这些移位寄存器。