| 发明名称 |
Checking an integrated circuit using pre-production simulation and post-production tests |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2400677(A) |
申请公布日期 |
2004.10.20 |
| 申请号 |
GB20040007535 |
申请日期 |
2004.04.01 |
| 申请人 |
* SUN MICROSYSTEMS, INC. |
发明人 |
KEITH H * BIERMAN;DAVID R * EMBERSON;LIANG T * CHEN |
| 分类号 |
G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
