发明名称 |
磁阻效应元件,磁头和磁记录/再现设备 |
摘要 |
一种磁阻效应元件,包括:固定磁化层;自由磁化层;其设置在所述固定磁化层和所述自由磁化层之间的非磁性隔离;和设置在所述自由磁化层背向所述非磁性中间层的一侧上的插入层,其中,第一绝缘层具有包含选自由Al(铝)、Si(硅)、Mg(镁)、Ta(钽)和Zn(锌)构成的组中的至少一种元素的氧化物、氮化物或氧氮化物作为主要成分,以及,所述插入层具有包含选自由Al(铝)、Si(硅)、Mg(镁)、Ta(钽)和Zn(锌)构成的组中的至少一种元素的氧化物、氮化物或氧氮化物作为主要成分。 |
申请公布号 |
CN101026221A |
申请公布日期 |
2007.08.29 |
申请号 |
CN200710078832.5 |
申请日期 |
2007.02.16 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
藤庆彦;福泽英明;汤浅裕美;岩崎仁志 |
分类号 |
H01L43/08(2006.01);G11B5/39(2006.01);H01F10/26(2006.01);H01F10/32(2006.01) |
主分类号 |
H01L43/08(2006.01) |
代理机构 |
北京市中咨律师事务所 |
代理人 |
杨晓光;李峥 |
主权项 |
1.一种磁阻效应元件,包括:固定磁化层,其磁化方向实际上固定在一个方向上;自由磁化层,其磁化方向根据外部磁场发生变化;非磁性隔离层,其设置在所述固定磁化层和所述自由磁化层之间,并包括第一绝缘层,和贯穿第一绝缘层的第一电流通道;和插入层,其设置在所述自由磁化层背向所述非磁性隔离层的一侧上,其中,所述第一绝缘层具有包含选自由Al(铝)、Si(硅)、Mg(镁)、Ta(钽)和Zn(锌)构成的组中的至少一种元素的氧化物、氮化物或氧氮化物作为主要成分,以及,所述插入层具有包含选自由Al(铝)、Si(硅)、Mg(镁)、Ta(钽)和Zn(锌)构成的组中的至少一种元素的氧化物、氮化物或氧氮化物作为主要成分。 |
地址 |
日本东京都 |